High resolution quartz crystal microbalance for thin film deposition measurements /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Hasan Adli Alwi |
---|---|
التنسيق: | كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
Manchester :
University of Manchester,
1986.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
A study of permeability controllable Nafion films and polypyrrole films by quartz crystal microbalance (QCM) /
بواسطة: Gui-Zhu, Zhao
منشور في: (1997) -
Designs of pulsed-laser deposition systems and studies on high Tc superconducting thin films /
بواسطة: Xu, Sheng-Yong
منشور في: (1999) -
The structure and optical characteristics of plasma enhanced chemical vapour deposited silicon oxide thin films /
بواسطة: Tan, Kim Hee
منشور في: (1997) -
The performance of a thin film liquid - liquid contactor /
بواسطة: Jamaliah Md. Jahim
منشور في: (2001) -
The optical and electrical properties of silver based thin films /
بواسطة: Raviselvan Pararajasingam
منشور في: (1995)