Development of a MOSFET based electrostatics detection technique /
The destructive nature of high voltage has been noticeable for a long time in history. The friction of the object or the electrostatic induction can generate electric charges anywhere at any time, leading to the origination of high voltage electrostatic (HVES) fields. Unexpectedly HVES fields cause...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Aktar, Mahfuza (مؤلف) |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
Kuala Lumpur :
Kulliyyah of Engineering, Internatonal Islamic University Malaysia,
2021
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://studentrepo.iium.edu.my/handle/123456789/10681 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Electrostatic transduction for MEMS resonators /
بواسطة: Bhave, Sunil Ashok
منشور في: (2004) -
Extraction of submicron mosfet parameters /
بواسطة: Seah, Kah Suan
منشور في: (1997) -
Hot-carrier degradation study in MOSFET's by charge pumping, gated-diode and floating gate techniques /
بواسطة: Goh, Yong Han
منشور في: (1997) -
Two-dimensional analytical modelling of the short-channel mosfet /
بواسطة: Kendall, James D. 1959-
منشور في: (1987) -
Hot-carrier effects in thin gate oxide MOSFET's /
بواسطة: See, Leng Kian
منشور في: (1998)