Sevamalai, V. K. (1998). Neural Network Based Pattern Recognition in Visual Inspection System for Intergrated Circuit Mark Inspection.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Sevamalai, Venantius Kumar. Neural Network Based Pattern Recognition in Visual Inspection System for Intergrated Circuit Mark Inspection. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Sevamalai, Venantius Kumar. Neural Network Based Pattern Recognition in Visual Inspection System for Intergrated Circuit Mark Inspection. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.