Kooh, R. J. C. (2000). Device Characterization of 0.8-µm CMOS Technology.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Kooh, Roy Jinn Chye. Device Characterization of 0.8-µm CMOS Technology. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Kooh, Roy Jinn Chye. Device Characterization of 0.8-µm CMOS Technology. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.