Carbon Doped Silicon Dioxide Low K Dielectric Material.[QC585.75.S55 L732 2004 f rb][Microfiche 7649]
Objektif kajian ini adalah untuk mengkaji keberkesanan mendopkan sebatian karbon keatas SiO2 untuk menghasilkan bahan dielektrik k rendah. The semiconductor industry is entering a new millennium where scientists and engineers are continuing to search for the ideal dielectric material for future c...
Saved in:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Thesis |
| 語言: | English |
| 出版: |
2004
|
| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://eprints.usm.my/3087/1/QC585.75.S55_L732_2004_f_rb-Carbon_doped_silicon_dioxide_low_K_dielectric_material-_by_Alex_Lim_Ying_Kiat-Fizik-Microfiche_7649.pdf |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
成為第一個發表評論!