Growth And Characterization Of Gallium Nitride Films On Porous Silicon Substrate

Kajian ini memfokuskan penumbuhan lapisan gallium nitrida (GaN) ke atas substrat silikon (Si) berliang melalui kaedah percikan frekuensi radio (RF sputtering) dan penyejat alur elektron (e-beam evaporator). Untuk perbandingan, lapisan penampan nitrida aluminium nitrida (AlN), lapisan penampan titani...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Samsudin, Muhammad Esmed Alif
التنسيق: أطروحة
اللغة:English
منشور في: 2016
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.usm.my/31756/1/MUHAMMAD_ESMED_ALIF_BIN_SAMSUDIN_24%28NN%29.pdf
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة