Growth And Characterization Of Gallium Nitride Films On Porous Silicon Substrate
Kajian ini memfokuskan penumbuhan lapisan gallium nitrida (GaN) ke atas substrat silikon (Si) berliang melalui kaedah percikan frekuensi radio (RF sputtering) dan penyejat alur elektron (e-beam evaporator). Untuk perbandingan, lapisan penampan nitrida aluminium nitrida (AlN), lapisan penampan titani...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Samsudin, Muhammad Esmed Alif |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2016
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/31756/1/MUHAMMAD_ESMED_ALIF_BIN_SAMSUDIN_24%28NN%29.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Growth And Characterizations Of Spin Coated Gallium Nitride Thin Films On Siliconsubstrates
بواسطة: Fong, Chee Yong
منشور في: (2016) -
Morphological And Optical
Properties Of Porous Gallium Nitride
(Gan) Fabricated By
Photoelectrochemical Process
بواسطة: Cheah , Sook Fong
منشور في: (2015) -
Epitaxial Growth Of Iii-V Nitrides Based Light Emitting Diodes By Metal Organic Chemical Vapor Deposition
بواسطة: Samsudin, Muhammad Esmed Alif
منشور في: (2023) -
Structural And Optical Properties Of Sputtered Nanocrystalline Indium Nitride On Silicon Substrates
بواسطة: Amirhoseiny, Maryam
منشور في: (2013) -
Characterization Of Porous Silicon
And Zinc Oxide/Porous Silicon For
Photodetector Application
بواسطة: Rosli, Nurizati
منشور في: (2018)