Development Of Test Platform Of Fpga Interconnect To Capture Marginal Open Defect
This research highlights the development of test platform of FPGA interconnect to capture marginal open defect on Altera® Stratix V devices. The need for at-speed test was due to the increasing number of marginal open defects, resulting from manufacturing process complexity anticipated from continu...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/40813/1/FAHMY_HAFRIZ_BIN_MOHAMED_SULTAN_24_pages.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|