Fault Diagnosis On Vlsi Adder Circuits Using Artificial Neural Network
Fault diagnosis on VLSI digital circuit is a technique to detect a fault and the location of the fault that present in a VLSI digital circuit. A faulty circuit in an IC can cause the IC to be malfunctioning and unusable. Therefore, the faulty circuit must be detected during the manufacturing process...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Pui , Min San |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/40985/1/PUI_MIN_SAN_24_pages.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Design of 32-Bit Arithmetic Logic Unit Using Shannon Theorem Based Adder Approach
بواسطة: C., Senthilpari
منشور في: (2009) -
VLSI Design Of A Bit Serial Arithmetic Logic Unit
بواسطة: Lee, Tiong Kiat
منشور في: (2003) -
Improving modified cocomo ii artificial neural network using hyperbolic tangent activation function
بواسطة: Abdulaziz Al-Shalif, Sarah Abdulkarem
منشور في: (2017) -
Hybrid Diagnosis Model To Determine Fault Isolation For Scan Chain Failure Analysis On 22nm Fabrication Process
بواسطة: Victor Paulraj, Eric Paulraj
منشور في: (2016) -
Investigation on Mlp Artificial Neural Network Using FPGA For Autonomous Cart Follower System
بواسطة: Liew, Yeong Tat_
منشور في: (2015)