Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation
Menghasilkan tenaga yang boleh diperbaharui berkuantiti tinggi memerlukan kecekapan yang tinggi dalam fabrikasi produk wafer silikon, yang juga merupakan komponen asas panel solar. Oleh yang demikian, pemeriksaan kualiti yang tinggi untuk wafer solar semasa proses pengeluaran sangat penting. Dala...
Saved in:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Thesis |
| 语言: | English |
| 出版: |
2016
|
| 主题: | |
| 在线阅读: | http://eprints.usm.my/41026/1/Defect_Detection_And_Classification_Of_Silicon_Solar_Wafer_Featuring_Nir_Imaging_And_Improved_Niblack_Segmentation.pdf |
| 标签: |
添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!
|
成为第一个发表评论!