Defect Detection And Classification Of Silicon Solar Wafer Featuring Nir Imaging And Improved Niblack Segmentation
Menghasilkan tenaga yang boleh diperbaharui berkuantiti tinggi memerlukan kecekapan yang tinggi dalam fabrikasi produk wafer silikon, yang juga merupakan komponen asas panel solar. Oleh yang demikian, pemeriksaan kualiti yang tinggi untuk wafer solar semasa proses pengeluaran sangat penting. Dala...
Saved in:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Thesis |
| 語言: | English |
| 出版: |
2016
|
| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://eprints.usm.my/41026/1/Defect_Detection_And_Classification_Of_Silicon_Solar_Wafer_Featuring_Nir_Imaging_And_Improved_Niblack_Segmentation.pdf |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|