On-wafer noise figure characterization for radio frequency integrated circuits.
Kaedah nyah-benaman pengukuran Angka Hingar (AH) atas-wafer untuk Litar Bersepadu Frekuensi Radio (LBFR) dibentangkan dalam tesis ini. Ini diikuti dengan analisa ketakpastian gandaan untuk menyiasat pengaruh pengukuran skalar dan vektor terhadap AH. A de-embedding method of an on-wafer Noise Figu...
Saved in:
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Thesis |
| 語言: | English |
| 出版: |
2011
|
| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://eprints.usm.my/41103/1/On-wafer_noise_figure_characterization_for_radio_frequency_integrated_circuits..pdf |
| 標簽: |
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
|
| 總結: | Kaedah nyah-benaman pengukuran Angka Hingar (AH) atas-wafer untuk Litar Bersepadu Frekuensi Radio (LBFR) dibentangkan dalam tesis ini. Ini diikuti dengan analisa ketakpastian gandaan untuk menyiasat pengaruh pengukuran skalar dan vektor terhadap AH.
A de-embedding method of an on-wafer Noise Figure (NF) measurement for Radio Frequency Integrated Circuit (RFIC) is presented in this thesis. This is then followed by gain uncertainty analysis to investigate the influences of scalar and vector measurements on the NF.
|
|---|