On-wafer noise figure characterization for radio frequency integrated circuits.
Kaedah nyah-benaman pengukuran Angka Hingar (AH) atas-wafer untuk Litar Bersepadu Frekuensi Radio (LBFR) dibentangkan dalam tesis ini. Ini diikuti dengan analisa ketakpastian gandaan untuk menyiasat pengaruh pengukuran skalar dan vektor terhadap AH. A de-embedding method of an on-wafer Noise Figu...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2011
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/41103/1/On-wafer_noise_figure_characterization_for_radio_frequency_integrated_circuits..pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| الملخص: | Kaedah nyah-benaman pengukuran Angka Hingar (AH) atas-wafer untuk Litar Bersepadu Frekuensi Radio (LBFR) dibentangkan dalam tesis ini. Ini diikuti dengan analisa ketakpastian gandaan untuk menyiasat pengaruh pengukuran skalar dan vektor terhadap AH.
A de-embedding method of an on-wafer Noise Figure (NF) measurement for Radio Frequency Integrated Circuit (RFIC) is presented in this thesis. This is then followed by gain uncertainty analysis to investigate the influences of scalar and vector measurements on the NF.
|
|---|