Hybrid Diagnosis Model To Determine Fault Isolation For Scan Chain Failure Analysis On 22nm Fabrication Process
With the rapid growth of Very Large Scale Integration (VLSI) in complex designs, there is high demand for Design for Testability (DFT). Vast study has proven that Scan based testing is achieving good test coverage with lower cost and smaller die area and is widely used in the industry. Scan chain fa...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Victor Paulraj, Eric Paulraj |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2016
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.usm.my/41314/1/Eric_Paulraj_AL_Victor_Paulraj_24_Pages.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Fault Diagnosis On Vlsi Adder Circuits Using Artificial Neural Network
بواسطة: Pui , Min San
منشور في: (2015) -
Evaluation Of 28nm 10 Bit Adc Using Ramp And Sinusoidal Histogram Methodologies
بواسطة: Wan Ismail, Wan Mohd Fahmi
منشور في: (2015) -
Technique Of Pvt Analysis On Sd Controller Timing Validation For 28nm Soc Fpga
بواسطة: Yusni, Nur Amalina Aiza
منشور في: (2015) -
Fabrication of hybrid zno/tips-pentacene organic based diode using spray coating technique
بواسطة: Dzul Fahmi Mohd Husin Seria
منشور في: (2019) -
Design Of Fpga Address Register In 28nm Process Technology Based On Standard Cell Based Approach
بواسطة: Chew , Ming Choo
منشور في: (2013)