Mohd Yusoff, M. Z. (2008). Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
Chicago Style (17th ed.) CitationMohd Yusoff, Mohd Zaki. Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 F Rb]. 2008.
MLA (8th ed.) CitationMohd Yusoff, Mohd Zaki. Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 F Rb]. 2008.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.