Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].

Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Mohd Yusoff, Mohd Zaki
Format:	Thesis
Language:	English
Published:	2008
Subjects:	QC350-467 Optics Light
Online Access:	http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

id	my-usm-ep.8960
record_format	uketd_dc
spelling	my-usm-ep.89602017-03-22T02:23:48Z Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb]. 2008 Mohd Yusoff, Mohd Zaki QC350-467 Optics. Light Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector. 2008 Thesis http://eprints.usm.my/8960/ http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf application/pdf en public masters Universiti Sains Malaysia Pusat Pengajian Sains Fizik
institution	Universiti Sains Malaysia
collection	USM Institutional Repository
language	English
topic	QC350-467 Optics Light
spellingShingle	QC350-467 Optics Light Mohd Yusoff, Mohd Zaki Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
description	Projek ini mengkaji kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka Ni/Si dalam silikon sebagai pengesan foto. This project studied the effects of cryogenic treatment on Ni/Si interface in silicon device as a photodetector.
format	Thesis
qualification_level	Master's degree
author	Mohd Yusoff, Mohd Zaki
author_facet	Mohd Yusoff, Mohd Zaki
author_sort	Mohd Yusoff, Mohd Zaki
title	Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
title_short	Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
title_full	Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
title_fullStr	Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
title_full_unstemmed	Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].
title_sort	kesan rawatan kriogenik terhadap struktur antaramuka ni/si dalam peranti silikon sebagai pengesan foto [qc373.p9 z21 2008 f rb].
granting_institution	Universiti Sains Malaysia
granting_department	Pusat Pengajian Sains Fizik
publishDate	2008
url	http://eprints.usm.my/8960/1/KESAN_RAWATAN_KRIOGENIK_TERHADAP_STRUKTUR_ANTARAMUKA_NI_SI_DALAM_PERANTI_SILIKON_SEBAGAI_PENGESAN_FOTO.pdf
_version_	1747819735012081664

Kesan Rawatan Kriogenik Terhadap Struktur Antaramuka Ni/Si Dalam Peranti Silikon Sebagai Pengesan Foto [QC373.P9 Z21 2008 f rb].

Similar Items