Ahmad Rusli, N. (2020). Structural characterization of yttria stabilized zirconia thin film deposited by magnetron sputtering.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ahmad Rusli, Nurhamizah. Structural Characterization of Yttria Stabilized Zirconia Thin Film Deposited by Magnetron Sputtering. 2020.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ahmad Rusli, Nurhamizah. Structural Characterization of Yttria Stabilized Zirconia Thin Film Deposited by Magnetron Sputtering. 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.