A. Hamid, F. (2020). Variable oxide thickness optimization and reliability analysis of Gate-All-Around floating gate for flash memory cell.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)A. Hamid, Farah. Variable Oxide Thickness Optimization and Reliability Analysis of Gate-All-Around Floating Gate for Flash Memory Cell. 2020.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)A. Hamid, Farah. Variable Oxide Thickness Optimization and Reliability Analysis of Gate-All-Around Floating Gate for Flash Memory Cell. 2020.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.