Khoo, V. C. (2021). Mathematical modelling and optimization of multisite efficiency to reduce cost of test in semiconductor final test process using Taguchi method.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Khoo, Voon Ching. Mathematical Modelling and Optimization of Multisite Efficiency to Reduce Cost of Test in Semiconductor Final Test Process Using Taguchi Method. 2021.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Khoo, Voon Ching. Mathematical Modelling and Optimization of Multisite Efficiency to Reduce Cost of Test in Semiconductor Final Test Process Using Taguchi Method. 2021.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.