Muhamad Amin, M. R. R. (2011). Modified pattern generator of built-in self test for sequential circuits with reduced test time.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin. Modified Pattern Generator of Built-in Self Test for Sequential Circuits with Reduced Test Time. 2011.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin. Modified Pattern Generator of Built-in Self Test for Sequential Circuits with Reduced Test Time. 2011.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.