Modified pattern generator of built-in self test for sequential circuits with reduced test time
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
منشور في: |
2011
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Deterministic Automatic Test Pattern Generation for Built-In Self Test System
بواسطة: Mohammed Khalid, Muhammad Nazir
منشور في: (2006) -
Object-oriented test pattern generator and logic simulator for combinational circuits
بواسطة: Ooi, Chia Yee
منشور في: (2003) -
Scalable diversified antirandom test pattern generation with improved fault coverage for black-box circuit testing
بواسطة: Alamgir, Arbab
منشور في: (2022) -
Verilog design of input/output processor with built-in-self-test
بواسطة: Goh, Keng Hoo
منشور في: (2007) -
A parallel built-in self-test design for photon counting array
بواسطة: Png, Ricky Keh Jing
منشور في: (2022)