Gan, C. H. (2011). Optical properties measurements of nanocrystalline silicon thin films.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Gan, Chee Hong. Optical Properties Measurements of Nanocrystalline Silicon Thin Films. 2011.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Gan, Chee Hong. Optical Properties Measurements of Nanocrystalline Silicon Thin Films. 2011.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.