Object-oriented test pattern generator and logic simulator for combinational circuits
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ooi, Chia Yee |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
منشور في: |
2003
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
An object-oriented digital circuit simulator
بواسطة: Khairuddin, Alawidin
منشور في: (1993) -
Modified pattern generator of built-in self test for sequential circuits with reduced test time
بواسطة: Muhamad Amin, Muhamad Ridzuan Radin
منشور في: (2011) -
Scalable diversified antirandom test pattern generation with improved fault coverage for black-box circuit testing
بواسطة: Alamgir, Arbab
منشور في: (2022) -
Simulation of in-memory logic circuit based on probabilistic memristor using LTSPICE
بواسطة: Ng, Yuh Chyn
منشور في: (2022) -
CNFET-based design ternary logic design and arithmetic circuit simulation using HSPICE
بواسطة: Ee, Poey Guan
منشور في: (2015)