Kajian pencirian sifat struktur, optik dan elektrik saput tersejat timah (IV) oksida serta kesan dedahan gas
Thin films of tin (IV) oxide have been prepared using vacuum evaporation with thicknessess from 50-400 nm at pressure less than 10'5 mbar The as-prepared samples were annealed in air at selected temperatures of 200°C, 400°C and 600°C for 3 hours in air X-ray diffraction analysis showed that the...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
1997
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/44409/1/RosnitaMuhammadMFS1997.pdf |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|