Device modelling of archimedean spiral graphene nanoscroll field-effect-transistor
For the past decades, researchers indicate that persistent scaling of conventional silicon Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor (MOSFET) reaching its physical limit at 10nm, resulted in its performance degradation as the search continues for a low-power and high speed, density and relia...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/50698/25/MuhammadAfiqNurudinMFKE2014.pdf |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|