Characterizing the channel interface properties of vertical double-diffused metal-oxide semiconductor (DMOS) with charge pumping method /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | أطروحة كتاب |
| اللغة: | English |
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| وصف مادي: | xx, 131 leaves : illustrations ; 30cm. |
|---|---|
| بيبلوغرافيا: | Bibliography: leaves 116-122. |