توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Karim, N. M. (2015). Negative bias temperature instability and permittivity dependent delay mitigation in High-K metal oxide compatible cmos dielectric.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Karim, Nissar Mohammad. Negative Bias Temperature Instability and Permittivity Dependent Delay Mitigation in High-K Metal Oxide Compatible Cmos Dielectric. 2015.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)

Karim, Nissar Mohammad. Negative Bias Temperature Instability and Permittivity Dependent Delay Mitigation in High-K Metal Oxide Compatible Cmos Dielectric. 2015.