Hua, N. S. (2016). Finite element analysis of consecutive impacts on electronic devices and correlation to robustness.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hua, Norman Shijie. Finite Element Analysis of Consecutive Impacts on Electronic Devices and Correlation to Robustness. 2016.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Hua, Norman Shijie. Finite Element Analysis of Consecutive Impacts on Electronic Devices and Correlation to Robustness. 2016.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.