Degradation analysis based on design considerations of advanced-process MOSFET /

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Ainul Fatin Muhammad Alimin (Author)
Format: Thesis Book
Language:English
Published: 2018.
Subjects:
Online Access:http://studentsrepo.um.edu.my/9116/
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
LEADER 01486cam a2200337 i 4500
001 u1092305
003 SIRSI
005 201808151158
008 180815s2018 my a m 000 0 eng
040 |a UMM  |d UMJerda 
090 |a TA7  |b UM 2018 Ainfma 
097 |a TK7  |b UM 2018 Ainfma 
100 0 |a Ainul Fatin Muhammad Alimin,  |e author. 
245 1 0 |a Degradation analysis based on design considerations of advanced-process MOSFET /  |c Ainul Fatin binti Muhammad Alimin. 
264 1 |c 2018. 
300 |a xvii, 112 leaves :  |b illustrations (some colour) ;  |c 30 cm. 
336 |a text  |2 rdacontent 
337 |a unmediated  |2 rdamedia 
338 |a volume  |2 rdacarrier 
502 |b M.Eng.Sc.  |c Jabatan Kejuruteraan Elektrik, Fakulti Kejuruteraan, Universiti Malaya  |d 2018. 
504 |a Bibliography: leaves 88-105. 
530 |a Also issued in CD. 
650 0 |a Metal oxide semiconductor field-effect transistors. 
650 0 |a Electronic circuit design. 
710 2 |a Universiti Malaya.  |b Jabatan Kejuruteraan Elektrik,  |e degree granting institution. 
596 |a 1 7 
856 4 1 |u http://studentsrepo.um.edu.my/9116/ 
900 |a NSM AMA 
999 |a TA7 UM 2018 AINFMA  |w LC  |c 1  |i A516593778  |d 17/8/2018  |f 17/8/2018  |g 1  |l STACKS  |m P01UTAMA  |r Y  |s Y  |t TESIS  |u 17/8/2018  |1 STEM 
999 |a TK7 UM 2018 AINFMA  |w LC  |c 1  |i A515760995  |f 29/1/2019  |g 1  |l STACKS  |m P07JURUTER  |r Y  |s Y  |t TESIS  |u 29/1/2019  |1 STEM 
999 |a TK7 UM 2018 AINFMA  |w LC  |c 2  |i A515761007  |f 29/1/2019  |g 1  |l COUNTER  |m P07JURUTER  |r Y  |s Y  |t CD  |u 29/1/2019  |1 STEM