Development of holmium oxide thin film as high-k gate dielectric based on silicon carbide substrate /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Olabisi, Odesanya Kazeem (مؤلف) |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
2022.
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Neodymium oxide thin film gate oxide on silicon substrate /
بواسطة: Hetherin Karuppiah
منشور في: (2018) -
Samarium oxide and samarium oxynitride thin film gate oxides on silicon substrate /
بواسطة: Goh, Kian Heng
منشور في: (2017) -
Formation and characterization of rare earth oxides as high-k gate dielectrics on germanium substrate /
بواسطة: Onik, Tahsin Ahmed Mozaffor
منشور في: (2022) -
Formation and characterization of samarium oxide thin film on silicon substrate /
بواسطة: Lee, Chit Ying
منشور في: (2015) -
Studies Of The Effect Of Post Deposition Annealing To The Ceo2 Thin Film On P-Type Silicon And N-Type Silicon Carbide Substrates
بواسطة: Chuah, Soo Kiet
منشور في: (2011)