Sim, K. S. (1990). Electron beam testing of integrated circuits using a modified scanning electron microscope.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Sim, Kian Sin. Electron Beam Testing of Integrated Circuits Using a Modified Scanning Electron Microscope. 1990.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Sim, Kian Sin. Electron Beam Testing of Integrated Circuits Using a Modified Scanning Electron Microscope. 1990.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.