Digital speckle pattern interferometry for non-destructive testing /

Digital speckle pattern interferometry for non-destructive testing /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Sivaganthan Jayasingam
التنسيق: أطروحة كتاب
اللغة:English
منشور في: Kuala Lumpur, 1992.
الموضوعات:
Interferometry
Non-destructive testing.
Digital speckle pattern.
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
وصف المادة:PPZ.
Microfiche. Kuala Lumpur : University of Malaya Library, 2000. 2 fiches : negative ; 11 x 15 cm.
وصف مادي:vii, 123 leaves ; 29 cm.

مواد مشابهة