Hu, P. Y. (1992). Copper-induced deep level defects in GaAs0.6P0.4 alloy semiconductor.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hu, Peh Yin. Copper-induced Deep Level Defects in GaAs0.6P0.4 Alloy Semiconductor. 1992.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Hu, Peh Yin. Copper-induced Deep Level Defects in GaAs0.6P0.4 Alloy Semiconductor. 1992.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.