Koh, L. (1994). A spectroscopic photoemission microscopy system for semiconductor device analysis.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Koh, Lian-Ser. A Spectroscopic Photoemission Microscopy System for Semiconductor Device Analysis. 1994.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Koh, Lian-Ser. A Spectroscopic Photoemission Microscopy System for Semiconductor Device Analysis. 1994.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.