A spectroscopic photoemission microscopy system for semiconductor device analysis /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Koh, Lian-Ser |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1994.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Structural and electronic properties of advanced materials : photoemission and first principles calculations /
بواسطة: Zheng, Jincheng
منشور في: (2001) -
Carrier diffusion effects in semiconductor nonlinear optical devices /
منشور في: (1985) -
Optical absorption studies of heavily doped silicon /
بواسطة: Aw, Siew Eng
منشور في: (1986) -
Nuclear microscopy of wide band gap semiconductors /
بواسطة: Teo, Ee Jin
منشور في: (2002) -
Registration of positron emission tomography (PET) image and functional near infrared spectroscopy (fNIRS) data
بواسطة: Fairuz Mohd Nasir