An intelligent walk-through IC package inspection system /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lim, Seong Liang |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1995.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Development of an effective algorithm for microchip lead inspection /
بواسطة: Obaidy, Haitham Hilmi Lutfi
منشور في: (2004) -
Automatic visual inspection of IC packages /
بواسطة: Zhou, Huiyang
منشور في: (1998) -
Statistical yield analysis for IC manufacturing /
بواسطة: Yam, Hong See
منشور في: (1997) -
Integrated testing and algorithms for computer visual inspection of integrated circuits /
بواسطة: Heng, Aik Swan
منشور في: (1988) -
Techniques for efficient and accurate simulation of mixed analog & digital circuits /
بواسطة: Lee, Teng Kiat
منشور في: (1994)