Seah, B. P. (1995). Modelling and simulation of hot-carrier degradation in submicrometre MOS transistors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Seah, Boon Pian. Modelling and Simulation of Hot-carrier Degradation in Submicrometre MOS Transistors. 1995.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Seah, Boon Pian. Modelling and Simulation of Hot-carrier Degradation in Submicrometre MOS Transistors. 1995.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.