Modeling and analysis of constant-stress and step-stress accelerated life tests /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Sun, Yesheng |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1995.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Some new approaches to determining Bayesian reliability demonstration test plan /
بواسطة: Ten, Lin Mei
منشور في: (1998) -
Parametric and Semiparametric Competing Risks Models for Statistical Process Control with Reliability Analysis
بواسطة: Mohamed Elfaki, Faiz Ahmed
منشور في: (2004) -
Statistical methodologies for quality analysis : two application studies /
بواسطة: Chong, Tack Chuan
منشور في: (1996) -
Modelling of the reliability baseline for process control monitoring of kerf structures /
بواسطة: Ismah Binti Izuddin
منشور في: (2012) -
Investigation and statistical simulation of variation aware 14nm SRAM cache memory architecture
بواسطة: Pour, Somayeh Rahimi
منشور في: (2011)