Ong, V. K. S. (1995). An investigation into the electron beam induced current effects on semiconductor materials and devices.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ong, Vincent Keng Sian. An Investigation into the Electron Beam Induced Current Effects on Semiconductor Materials and Devices. 1995.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ong, Vincent Keng Sian. An Investigation into the Electron Beam Induced Current Effects on Semiconductor Materials and Devices. 1995.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.