An investigation into the electron beam induced current effects on semiconductor materials and devices /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ong, Vincent Keng Sian |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1995.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Studies on in-lens deflection systems for scanning electron-beam instruments /
بواسطة: Zhao, Yan
منشور في: (2000) -
A robust automatic focusing and astigmatism correction method for the scanning electron microscope /
بواسطة: Ong, Kok Hua
منشور في: (1998) -
The numerical simulation of beam steering in semiconductor lasers /
بواسطة: Chong, Kok Boon
منشور في: (1997) -
Kajian kepelbagaian dan sistem saraf pusat spesies terpilih ikan air tawar di Malaysia /
بواسطة: Mahassan Mamat
منشور في: (2017) -
Electron beam induced current/tunneling current microscopy of thin silicon dioxide films on silicon /
بواسطة: Pey, Kin San
منشور في: (1994)