Photon emission microscope systems for integrated circuit failure analysis /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ge, Li Xin |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1997.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Determination of optimal filter function for single-photon emission computed tomography (spect) : based on selected studies /
بواسطة: Mohamed Sani Alizain
منشور في: (1996) -
A study of hot-carrier effects using photon emission spectroscopy /
بواسطة: Tao, Jing Mei
منشور في: (1997) -
A multi-pixel CMOS photon detector for the scanning electron microscope /
بواسطة: Joon, Huang Chuah
منشور في: (2012) -
The role of plain radiography, computed tomography (CT), and 99mTc-MDP single photon emission computed tomography (SPECT) in the evaluation of back pain /
بواسطة: Wong, Leong Wai
منشور في: (1996) -
Reducing the effects of scattered gamma photons in Tc-99m myocardial spect imaging
بواسطة: Nazifah Abdullah