Electrical and structural characterisations of rapid thermal annealed silicon-silicon oxide systems /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Chan, Yee Ming |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1997.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Effect of rapid thermal annealing on rf sputtered silicon-silicon oxide systems /
بواسطة: Choo, Chong Kheng
منشور في: (1997) -
Electrical and structural characterisation of rapid thermal annealed RF sputtered silicon oxide films /
بواسطة: Han, King Kwang
منشور في: (1998) -
Effects of annealing on the structural properties of R.F. sputtered amorphous silicon carbide films /
بواسطة: Ong, Tiong Yew
منشور في: (1998) -
Tunnelling phenomena in rapid thermal annealed silicon : silicon oxide systems /
بواسطة: Poon, Fook Weng
منشور في: (1997) -
A comparative study of MOS capacitors fabricated on single-crystal and polycrystalline silicon /
بواسطة: Tay, Tuang Mee
منشور في: (1990)