Lou, C. L. (1997). Hot-carrier characterization of tungsten polycide gate and graded-junction MOS transistors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Lou, Choon Leong. Hot-carrier Characterization of Tungsten Polycide Gate and Graded-junction MOS Transistors. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Lou, Choon Leong. Hot-carrier Characterization of Tungsten Polycide Gate and Graded-junction MOS Transistors. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.