Goh, Y. H. (1997). Hot-carrier degradation study in MOSFET's by charge pumping, gated-diode and floating gate techniques.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Goh, Yong Han. Hot-carrier Degradation Study in MOSFET's by Charge Pumping, Gated-diode and Floating Gate Techniques. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Goh, Yong Han. Hot-carrier Degradation Study in MOSFET's by Charge Pumping, Gated-diode and Floating Gate Techniques. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.