Tan, S. E. (1997). Evaluation of hot-carrier degradation in submicrometre MOSFETs by gate capacitance and charge pumping current measurements.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Tan, Suat Eng. Evaluation of Hot-carrier Degradation in Submicrometre MOSFETs by Gate Capacitance and Charge Pumping Current Measurements. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Tan, Suat Eng. Evaluation of Hot-carrier Degradation in Submicrometre MOSFETs by Gate Capacitance and Charge Pumping Current Measurements. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.