Yam, H. S. (1997). Statistical yield analysis for IC manufacturing.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Yam, Hong See. Statistical Yield Analysis for IC Manufacturing. 1997.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Yam, Hong See. Statistical Yield Analysis for IC Manufacturing. 1997.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.