Hoon, S. K. (1998). The lateral profiling of interface state and oxide charge densities in electrically stressed MOSFET's.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Hoon, Siew Kuok. The Lateral Profiling of Interface State and Oxide Charge Densities in Electrically Stressed MOSFET's. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Hoon, Siew Kuok. The Lateral Profiling of Interface State and Oxide Charge Densities in Electrically Stressed MOSFET's. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.