Ong, T. Y. (1998). Effects of annealing on the structural properties of R.F. sputtered amorphous silicon carbide films.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Ong, Tiong Yew. Effects of Annealing on the Structural Properties of R.F. Sputtered Amorphous Silicon Carbide Films. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Ong, Tiong Yew. Effects of Annealing on the Structural Properties of R.F. Sputtered Amorphous Silicon Carbide Films. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.