A robust automatic focusing and astigmatism correction method for the scanning electron microscope /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Ong, Kok Hua |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1998.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
SEM automation using autocorrelation techniques /
بواسطة: Krishnan, Meena
منشور في: (1996) -
Charging effects in low-voltage scanning electron microscope metrology /
بواسطة: Li, Ou
منشور في: (1997) -
Materials characterization and modification with scanning probe techniques /
بواسطة: Lei, Zhou
منشور في: (1998) -
Studies on in-lens deflection systems for scanning electron-beam instruments /
بواسطة: Zhao, Yan
منشور في: (2000) -
Kajian kepelbagaian dan sistem saraf pusat spesies terpilih ikan air tawar di Malaysia /
بواسطة: Mahassan Mamat
منشور في: (2017)