Qin, W. H. (1998). Hot-carrier characterization of submicrometer MOS transistors: Subthreshold degradation and channel-width effect.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Qin, Wei Han. Hot-carrier Characterization of Submicrometer MOS Transistors: Subthreshold Degradation and Channel-width Effect. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Qin, Wei Han. Hot-carrier Characterization of Submicrometer MOS Transistors: Subthreshold Degradation and Channel-width Effect. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.