Automatic visual inspection of IC packages /
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Zhou, Huiyang |
---|---|
التنسيق: | أطروحة كتاب |
اللغة: | English |
منشور في: |
1998.
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
An intelligent walk-through IC package inspection system /
بواسطة: Lim, Seong Liang
منشور في: (1995) -
3D visual inspection of IC bonding wires /
بواسطة: Han, Xiao
منشور في: (1997) -
Development of an effective algorithm for microchip lead inspection /
بواسطة: Obaidy, Haitham Hilmi Lutfi
منشور في: (2004) -
A built-in self-testable bit-slice processor /
بواسطة: Ibrahim Abubakr M.
منشور في: (1995) -
BIST based on reseeding of LFSRs /
بواسطة: Venkataraman, Srikanth
منشور في: (1993)