Yeo, B. P. (1998). Flicker noise characterization of trapping effects in submicrometer Mos transistors.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Yeo, Boon Pian. Flicker Noise Characterization of Trapping Effects in Submicrometer Mos Transistors. 1998.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Yeo, Boon Pian. Flicker Noise Characterization of Trapping Effects in Submicrometer Mos Transistors. 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.